Preview

Радиопромышленность

Расширенный поиск

Разработка модулей локального хранения и обработки информации о дефектах в блоках кэш-памяти процессора с энергонезависимой памятью

https://doi.org/10.21778/2413-9599-2020-30-4-111-118

Полный текст:

Аннотация

Постановка проблемы. С уменьшением технологической нормы производства микропроцессоров растет количество возможных производственных дефектов на кристалле микропроцессора, некоторые типы которых могут проявиться только в ходе основной работы микропроцессора. Для нейтрализации таких дефектов и, как следствие, повышения количества выхода годных микропроцессоров рассматривается аппаратная реализация модуля хранения и обработки информации о дефектах в блоках кэш-памяти процессора с энергонезависимой памятью.

Цель. Исследование различных вариантов реализации такого модуля, выявление сопутствующих проблем и методов их решения, проведение синтеза описанных вариантов реализации с использованием систем автоматического проектирования и сравнение полученных характеристик.

Результаты. По итогам анализа результатов синтеза найдена реализация, занимающая наименьшую площадь на кристалле, предназначенная для внедрения в разрабатываемый микропроцессор «Эльбрус-12С».

Практическая значимость. С учетом современных требований к разработке для повышения количества выхода годных процессоров в работе описаны сопутствующие проблемы и способы их устранения.

Об авторах

М. О. Цой
ФГАОУ ВО «Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)»; АО «МЦСТ»
Россия

Цой Марк Олегович, студент, ФГАОУ ВО «Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет); инженер, АО «МЦСТ»

141701, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., д. 9
117105, Москва, ул. Нагатинская, д. 1, стр. 23
тел.: +7 (915) 319-40-79 



Д. М. Альфонсо
ФГАОУ ВО «Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)»; АО «МЦСТ»
Россия

Альфонсо Даниил Максимович, преподаватель, ФГАОУ ВО «Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет); старший инженер, АО «МЦСТ»

141701, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., д. 9
117105, Москва, ул. Нагатинская, д. 1, стр. 23
тел.: +7 (925) 281-23-57 



Список литературы

1. Jones D. H. Economic Impact of the Technology Choices at 28nm/20nm. IBS, Inc., 2012, 6 p.

2. Ma Y., Kan E. Non-logic Devices in Logic Processes. Springer, 2017, 306 p.

3. Bhaskar P. S. N., Sarada B., Kandregula S. Built-In Self-Repair Techniques of Embedded Memories with BIST for Improving Reliability // IOSR Journal of Computer Engineering, 2019, vol. 21, iss. 1, pp. 8–15.

4. Hamdioui S. Testing Embedded Memories: A Survey // MEMICS2012: Mathematical and Engineering Methods in Computer Science, pp. 32–42.

5. RAMPiler+ 16nm Compiler User Manual. Dolphin Technology Inc., 2017, 114 p.

6. Horiguchi M., Itoh K. Nanoscale Memory Repair. Springer, New York, 2011, 218 p.

7. Альфонсо Д. М., Исаев М. В., Костенко В. О. Разработка системы тестирования и повышения выхода годной продукции для кэш-памяти микропроцессора, изготовленного по технологическим нормам 28 нм // Вопросы радиоэлектроники. 2014. Т. 4. № 3. С. 106–118.

8. Tessent Memory BIST Usage Guide and Reference. Mentor Graphics Corporation, 2012, 763 p.

9. Rizzolo R. F., Foote T. G., Crafts J. M., Grosch D. A., Leung T. O., Lund D. J., Mechtly B. L., Robbins B. J., Slegel T. J., Tremblay M. J., Wiedemeier G. A. IBM System z9 eFUSE applications and methodology // IBM Journal of Research and Development, 2007, vol. 51, iss. 1.2, pp. 65–75.

10. OpenSPARC T2 SOC Microarchitecture Specification. Sun Microsystems, Inc., 2008. Available at: https://www.oracle.com/technetwork/systems/opensparc/t2–06-opensparct2-core-microarch-1537749.html (accessed 22.10.2020).

11. Микропроцессор Эльбрус-16С – получены первые инженерные образцы [Электронный ресурс]. URL: https://pwo.su/30738-mikroprocessora-elbrus-16s-polucheny-pervye-inzhenernye-obrazcy.html (дата обращения 22.10.2020).


Дополнительные файлы

Для цитирования:


Цой М.О., Альфонсо Д.М. Разработка модулей локального хранения и обработки информации о дефектах в блоках кэш-памяти процессора с энергонезависимой памятью. Радиопромышленность. 2020;30(4):111-118. https://doi.org/10.21778/2413-9599-2020-30-4-111-118

For citation:


Tsoy M.O., Alfonso D.M. Developing modules for local storage and handling of cache memory defects information in a processor with non-volatile memory. Radio industry (Russia). 2020;30(4):111-118. (In Russ.) https://doi.org/10.21778/2413-9599-2020-30-4-111-118

Просмотров: 55


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2413-9599 (Print)
ISSN 2541-870X (Online)