Preview

Радиопромышленность

Расширенный поиск

Проблемы реализации высокоскоростных каналов оперативной памяти DDR4 в российском многоядерном микропроцессоре нового поколения

https://doi.org/10.21778/2413-9599-2020-30-1-30-36

Полный текст:

Аннотация

Решение проблемы совместимости новых отечественных разработок с передовыми стандартами, постоянно осваиваемыми и используемыми в мировой микроэлектронной индустрии, требует основательной работы по анализу и оптимизации системной среды их внедрения. В статье приводятся результаты исследований работы канала оперативной памяти DDR4 нового микропроцессора «Эльбрус-8СВ». Основной проблемой явилась существенно меньшая, чем расчетная, скорость передачи данных по каналу. В связи с этим был реализован и внедрен в эксплуатацию метод исследования функционирования канала, основанный на формировании аналогов глазковых диаграмм, позволяющих судить об области работоспособности и устанавливать оптимальные настройки. Исследования, проведенные с использованием данного метода, позволили установить причины неудовлетворительных показателей работы канала и объективно оценить конструкторские решения, принятые при разработке. После учета этих результатов и внесения изменений в кристалл и коммутационную плату корпуса микропроцессора была выпущена усовершенствованная версия микропроцессора, в которой удалось достичь расчетной скорости передачи данных по каналу оперативной памяти.

Об авторах

И. Е. Билялетдинов
ПАО «Институт электронных управляющих машин им. И. С. Брука»; МИРЭА – Российский технологический университет
Россия

Билялетдинов Илья Евгеньевич, аспирант, РТУ МИРЭА, инженер-программист, ПАО «Институт электронных управляющих машин им И. С. Брука»

119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24



Л. С. Тимин
ПАО «Институт электронных управляющих машин им. И. С. Брука»; АО «МЦСТ»
Россия

Тимин Леонид Сергеевич, начальник сектора

119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24



Список литературы

1. Foster G. Anatomy of an Eye Diagram – a Primer. SyntheSys Research, Inc., 2004, 9 p.

2. Билялетдинов И. Е., Ометов А. Е., Тимин Л. С. Оптимизация параметров высокоскоростных каналов процессора с целью повышения отказоустойчивости вычислительного комплекса // Вопросы радиоэлектроники. 2018. № 2. С. 87–92.

3. Wang L., Stroud C. E., Touba N. A. System-on-Chip Test Architectures: nanometer design for testability. Burlington, Morgan Kaufmann Publishers, 2008, 856 p.

4. Wang L., Wu Ch., Wen X. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. San Francisco, Morgan Kaufmann Publishers, 2006, 777 p.

5. IEEE Std 1149.1–2001: IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. New York, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2001, 208 p. [Электронный ресурс]. URL: http://fiona.dmcs.pl/~cmaj/JTAG/JTAG_IEEE-Std-1149.1–2001.pdf (дата обращения: 12.12.2019).


Для цитирования:


Билялетдинов И.Е., Тимин Л.С. Проблемы реализации высокоскоростных каналов оперативной памяти DDR4 в российском многоядерном микропроцессоре нового поколения. Радиопромышленность. 2020;30(1):30-36. https://doi.org/10.21778/2413-9599-2020-30-1-30-36

For citation:


Bilyaletdinov I.E., Timin L.S. Implementation problems of high-speed DDR4 channels in a new generation Russian multi-core microprocessor. Radio industry (Russia). 2020;30(1):30-36. (In Russ.) https://doi.org/10.21778/2413-9599-2020-30-1-30-36

Просмотров: 305


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2413-9599 (Print)
ISSN 2541-870X (Online)