Preview

Радиопромышленность

Расширенный поиск

Постсиликоновая верификация высокоскоростных межпроцессорных связей в процессоре «Эльбрус-8СВ»

https://doi.org/10.21778/2413-9599-2019-29-3-33-40

Полный текст:

Аннотация

В статье приводятся эксперименты, проведенные в рамках постсиликоновой верификации микропроцессора «Эльбрус-8СВ» – одного из важных этапов процесса верификации, во многом определяющего возможность создания высокопроизводительных вычислительных комплексов в составе нескольких микропроцессоров данной серии. Исследуется канал межпроцессорных связей процессора «Эльбрус-8СВ», и выдвинуты предположения о причинах низкой скорости работы межпроцессорных связей. Описаны эксперименты, которые были проведены для проверки выдвинутых гипотез, и даны промежуточные выводы, основанные на результатах этих исследований. Рассмотрен встроенный в физические уровни CEI-6G и PCIe 2.0 механизм тестирования, его режимы работы и алгоритм тестирования. Проведены исследования по проверке корректности используемого механизма, и описаны модификации исходного метода проверки связей. Сделаны окончательные выводы о причинах некорректной работы межпроцессорных связей, и выданы рекомендации для увеличения надежности проектируемых высокоскоростных связей как по параметрам затухания сигнала, так и по уровню помехозащищенности. Актуальность данного исследования для производства современных высокопроизводительных вычислительных систем прослеживается не только в интересе проектировщиков к данной проблеме, но и в требованиях производителей физических уровней.

Об авторах

А. Е. Ометов
АО «МЦСТ»
Россия

Ометов Александр Евгеньевич, инженер 2-й категории 

119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24



А. А. Виноградов
АО «МЦСТ»; МИРЭА – Российский технологический университет
Россия

Виноградов Артем Андреевич, аспирант, МИРЭА – Российский технологический университет, инженер 3-й категории, АО «МЦСТ»

119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24



А. С. Воробьев
АО «МЦСТ»; ПАО «Институт электронных управляющих машин им. И.С. Брука»
Россия

Воробьев Антон Сергеевич, начальник сектора 

119334, Москва, ул. Вавилова, д. 24



Список литературы

1. Mishra P., Ray S., Morad R., Ziv A. Post-Silicon Validation in the SoC Era: A Tutorial Introduction. IEEE Design&Test, 2017, vol. 34, iss. 3, pp. 68–92 [Электронный ресурс]. URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/7892969 (дата обращения: 23.04.2019).

2. Wang L.-T., Stroud C. E., Touba N. A. System-on-Chip Test Architectures: nanometer design for testability. Burlington, Morgan Kaufmann Publishers, 2008, 896 p.

3. IEEE Std 1149.1-2001: IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. New York, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2001, 208 p. [Электронный ресурс]. URL: https://standards.ieee.org/standard/1149_1-2001.html (дата обращения: 04.07.2019).

4. Müller M., Stephens R., McHugh R. Total Jitter measurement at low probability levels, using optimized BERT Scan method. Agilent Technologies, Inc. 2005, 2007. Printed in USA, 2007, 18 p. [Электронный ресурс]. URL: http://literature.cdn.keysight.com/litweb/pdf/5989-2933EN.pdf (дата обращения: 03.07.2019).

5. Hardock A., Rimolo-Donadio R., Müller S., Kwark Y. H., Schuster C. Efficient, Physics-Based Via Modeling: Return Path, Impedance, and Stub Effect Control. IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine, 2014, vol. 3, iss. 1, pp. 76–84 [Электронный ресурс]. URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/6798802 (дата обращения: 03.07.2019). DOI: 10.1109/MEMC.2014.6798802.


Для цитирования:


Ометов А.Е., Виноградов А.А., Воробьев А.С. Постсиликоновая верификация высокоскоростных межпроцессорных связей в процессоре «Эльбрус-8СВ». Радиопромышленность. 2019;29(3):33-40. https://doi.org/10.21778/2413-9599-2019-29-3-33-40

For citation:


Ometov A.E., Vinogradov A.A., Vorobiev A.S. Post-silicon verification of high-speed interconnections in Elbrus-8CB microprocessor. Radio industry (Russia). 2019;29(3):33-40. (In Russ.) https://doi.org/10.21778/2413-9599-2019-29-3-33-40

Просмотров: 71


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2413-9599 (Print)
ISSN 2541-870X (Online)